МИКРОСКОП МИР-12

Микроскоп МИР-12 предназначается для расшифровки спектрограмм методом измерения расстояния между искомыми и известными спектральными линиями.

ОСНОВНЫЕ ДАННЫЕ

  • Погрешность измерения на микроскопе МИР-12 . . . ± ( 5 + L / 10) мк, где L – измеряемая длина в миллиметрах.
  • Пределы измерения в продольном направлении . . .  0 – 50 мм
  • Увеличение микроскопа . . . 15x
  • Габарит прибора . . . 440X280X315 мм
  • Вес . . . 12 кг

КОМПЛЕКТ

  • Микроскоп для спектрограмм МИР-12 . . . 1 шт.

  • Салфетка . . . 1 шт.
  • Кисточка . . . 1 шт.
  • Ящик укладочный . . . 1 шт.
  • Описание . . . 1 экз.
  • Выпускной аттестат . . . 1 экз.

КОНСТРУКЦИЯ

Оптический прибор МИР-12, показанный на рисунке, состоит из следующих частей: основания, стола, микроскопа, измерительного винта, осветительного зеркала и предметного стекла.

микроскоп мир-12Основание. В нижней части основания помещаются продольные направляющие стола и осветительное зеркало. В верхней части на двух дугообразных приливах-кронштейнах крепятся измерительный винт и микроскоп, который может передвигаться по направляющим. Сверху укреплена миллиметровая шкала и индекс.

Стол. Стол, представляет собой металлическую рамку 1, в которой укреплено предметное стекло 2, имеет три установочных перемещения: продольное (на роликах) на 200 мм, поперечное (на шариках) на 110 мм и поворот в пределах ±2,5° для ориентирования измеряемой спектрограммы.

Для освобождения продольного хода стола требуется нажать пружинную рукоятку 3. Поперечное перемещение стола производится непосредственно от руки. Поворот стола осуществляется винтом 4.

Микроскоп. Микроскоп дает прямое изображение. Фокусировка достигается вращением объектива за нижний накатанный поясок 5, после чего объектив закрепляется контргайкой 6.

В промежутке между двумя отсчетами одного измерения производить перефокусировку нельзя, так как при этом может произойти смещение оптической оси микроскопа и изменение увеличения.

Окуляр имеет гладкую цилиндрическую оправу. Для ориентирования сетки относительно направления движения стола необходимо освободить хомутик 7 и повернуть окуляр. Установка окуляра на резкость сетки достигается вращением оправы 8 глазной линзы при зажатом хомутике.

Наводка на линии измеряемой спектрограммы производится по одиночному или двойному штриху сетки в поле зрения микроскопа.

Измерительный винт. Измерительный винт обеспечивает перемещение микроскопа в пределах 0-50 мм. Целые миллиметры отсчитываются по миллиметровой шкале, укрепленной в верхней части основания, десятые и сотые доли миллиметра – по барабану 9 с ценой деления 0,01 мм; десятые доли деления барабана (микроны) оцениваются на глаз.

Осветительное зеркало. Осветительное зеркало 10 представляет собой металлическую пластинку, одна сторона которой отполирована, а другая покрыта белой эмалевой краской. В зависимости от источника освещения можно пользоваться той или другой стороной зеркала, вращая его от руки в различных направлениях.

Микроскоп может работать при естественном (дневном) и искусственном освещении. Источник света помещается сзади прибора.

Предметное стекло. Предметное стекло представляет собой плоскопараллельную стеклянную пластину с матовой поверхностью. Поверхность стекла выверена в рамке параллельно плоскости рабочих и установочных перемещений ее в положении, отмеченном на стекле и на рамке точками. Менять положение стекла нельзя.

Предметное стекло и измеряемые спектрограммы прижимаются плоскими пружинами.

МЕТОДИКА РАБОТЫ

Подготовка к работе

Микроскоп МИР-12 устанавливают на столе, свободном от сотрясений и вибрации.

Измеряемую спектрограмму кладут на предметное стекло эмульсией кверху так, чтобы длины волн спектральных линий возрастали слева направо. Затем зеркалом регулируют равномерность освещения участка спектрограммы, видимого в микроскоп, окуляр устанавливают на резкость изображения сетки вращением оправы 8 и, вывинчивая объектив 5, производят фокусировку до уничтожения параллакса между изображением штрихов сетки и измеряемыми спектральными линиями.

Спектрограмму ориентируют относительно штриха окуляра таким образом, чтобы концы спектральных линий измеряемого участка были одинаково расположены относительно конца штриха; это достигается сначала приблизительно – перемещением спектрограммы непосредственно от руки, а затем более точно  – с помощью винта 4.

Далее проверяют параллельность штриха сетки микроскопа относительно спектральных линий. Если штрих не параллелен спектральным линиям, необходимо установить его вращением окуляра. После этого снова проверяют ориентировку спектрограммы относительно штриха окуляра.

Определение спектральных линий

Для расшифровки спектральных линий неизвестного элемента можно использовать в качестве шкалы длин волн спектр чистого железа, так как спектральные линии железа в настоящее время наиболее подробно измерены и их длины волн могут быть взяты из соответствующих таблиц (например, из таблиц спектральных линий под редакцией С. Л. Мандельштама и С. М. Райского). Для этого необходимо сфотографировать в стык с анализируемым элементом спектр чистого железа.

В практике спектрального анализа для нахождения спектральных линий неизвестного элемента с помощью спектра чистого железа применяется следующий аналитический способ.

Выбирают две известные спектральные линии железа так, чтобы между ними или недалеко от них лежала определяемая линия анализируемого элемента. Для точных измерений необходимо, чтобы разность длин волн между этими линиями не превышала нескольких миллимикрон.

Обозначим первую линию железа λ1, (с меньшим значением λ), вторую линию железа λ2 (с большим значением λ) и линию анализируемого элемента λx.

Измерим два расстояния: от первой линии железа λ1 до линии искомого элемента λx и от линии искомого элемента λx до второй линии железа λ2.

Обозначим первое расстояние X1, второе – X2. Подставим значения X1 и X2 и также значения λ1, и λ2, взятые из таблиц, в формулу, из которой находим линию искомого элемента.

λx = λ+ ( λ– λ1) / (X+ X2) * X1

Измерения расстояний X1 и X2 повторяют не менее десяти раз и берут средние значения. При этом необходимо следить за тем, чтобы штрих окуляра подводился всегда с одной стороны спектральной линии для уменьшения ошибки от мертвого хода винта.

Измерения расстояний (например, X1 производят следующим образом: перемещая микроскоп, совмещают спектральную линию железа с одиночным штрихом окуляра или устанавливают ее точно посередине двойного штриха; по миллиметровой шкале отсчитывают целые миллиметры, а по барабану – десятые и сотые доли миллиметра; кроме того, отсчитывают на глаз тысячные доли миллиметра, т. е. десятые доли деления барабана; затем микроскоп перемещают вращением барабана до совмещения спектральной линии искомой длины волны λx со штрихом окуляра и снова берут отсчет по миллиметровой шкале и барабану. Для нахождения X1 берут разность между последним и первым измерениями.

Примечания: 1. Если разность длин волн линий сравнения λ– λ1 больше нескольких миллимикрон или если нужно получить максимально точный результат вычисления длины волны, расчет ведут по следующей формуле:

λ= λ+ C / (l+ l0)

где:

  • λ0, С и l0 – три постоянные;
  • λx – искомая длина волны;
  • lx – перемещение микроскопа в миллиметрах.

Для определения постоянных следует вблизи измеряемой линии произвести измерения трех известных линий (см. С. Э. Фриш. Техника спектроскопии, стр. 149 – 150, 1936).

2. При более точных измерениях следует пользоваться нормалями II и III порядка (см. Справочник технической энциклопедии, т. IX, стр. 9 – 10 и С. Э. Фриш. Техника спектроскопии, стр. 138—143, 1936).

УХОД ЗА ПРИБОРОМ

Прибор требует бережного и умелого обращения. При переноске его нужно следить, чтобы стол не ударялся о дугообразные приливы-кронштейны основания.

Смещать микроскоп до упора не рекомендуется.

Направляющие стола и микроскопа должны содержаться в чистоте и должны быть смазаны. Браться руками за направляющие не следует.

Перед укладкой микроскопа МИР-12 в ящик нужно установить осветительное зеркало горизонтально, чтобы не повредить его, а столик привести в центральное положение.

При укладке для транспортировки необходимо закрепить столик и рамку специальной деревянной скобой, прилагаемой к прибору.

РЕЗУЛЬТАТЫ ПОВЕРКИ

мир-12 результаты поверки

ГАРАНТИИ

Микроскоп МИР-12 проверен отделом технического контроля по техническим условиям и чертежам организации и признан годным.

Исправность прибора и точность показаний в пределах значений допустимых погрешностей гарантируются в течение одного года с момента выпуска при условии бережного обращения и соблюдения правил транспортировки, хранения и эксплуатации.

О недостатках, обнаруженных в приборе, просим сообщить организации через поставщика.

микроскоп для спектрограмм мир-12
микроскоп для спектрограмм мир-12 описание